矿物的电性测定常以测量矿物电阻率的倒数表示其导电率，或以电阻率直接表示。对于矿物颗粒粗大的（＞5毫米），可在直流条件下，采用指示仪表测量，如用细针探头的万用表和欧姆表可直接测量。精准测量可采用电桥。

高压圆盘法是武汉安全技术研究所研制成功的一种测定粉尘比电阻的方法，可测常温和变温条件下矿粉的比电阻，并可做出矿粉源采用可调高电子管桥式全波整流，最高电圧60千伏，最大电流20毫安，测试仪表采用高压静电电压表，从零到30千伏一套。

测量的样品必须纯净，粒度应小于20毫米，其数量要求5-10克，根据矿物的密度而定。此法测定矿物比电阻误差较大。其影响因素是样品的湿度、矿物纯度、矿物的击穿电压，特别是不同粒级的矿物颗粒间形成空隙度越小，比电阻越接近实际。如果把粒径由20微米改成5微米，可使其比电阻增高三个数量级。粉层过于疏松，空隙度变大，则比电阻加大。

冷热探针法是对于半导体矿物的导电类型测定方法主要三种：冷热探针法、电接触整流法和叠加法，其中以冷热探针法最简便。

本法是根据矿物温差电效应进行测量的，因为半导体矿物内自由载流子的能量和运动速度是随温度的升高而增大的，由于温度不同热激发的效应也不同。因此，矿物晶体内冷热两点之间就造成了自由载流子的浓度差，这样在两点间就出现了电位差。如果结构不同，他们所带电性不同，则外电路的电流方向不同，就可判定样品的导电类型。

总之，根据对大量不透明矿物的导电率或电阻率的实测表明，矿物导电率并不是一个常数。而是有很大的变化范围。例如，某些磁铁矿的导电率比同一部位的磁铁矿高695倍；赤铁矿导电率的变化至少达7500倍。测定者发现同一矿物的不同标本所消除则内部电阻将会偏高，影响结果的精度。

矿物发光性研究法是指矿物的发光性是在外来能量的激发下，发出可见光的性质。能够激发矿物发光的因素是多种多样的。加热、摩擦、阴极射线、紫外线、X-射线的照射，都能是某些矿物发出一定颜色的可见光。

我国研制生产的携带式紫外光灯已被广泛应用，可随便带入矿井或矿道进行矿物鉴定，如用紫外光灯照射白钨矿时，则发出鲜明的浅蓝色荧光；硅锌矿发出鲜绿色磷光。

光学显微镜是有理的研究手段，它是利用直线偏光或矿物表面对光线的反射来研究矿物的光学特性，实现鉴定矿物的目的。

实体显微镜一般是在双目镜下对矿物各种物理性质的详细观察，如矿物的晶型、颜色、光泽、解理、裂开、断口、透明度、颗粒表面性质、包裹体以及连生体等。此外还有投射显微镜鉴定法和反射偏光显微镜鉴定法等。

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